西安紫光国芯突破专利壁垒,创新芯片老化测试技术，优化温度分布均匀性提升性能

西安紫光国芯近日申请了一项关于芯片老化测试的专利，旨在提高芯片温度分布的均匀性。这一技术的突破对于芯片制造行业具有重要意义，以下是对这一事件的分析：
1. 芯片老化测试的重要性：芯片老化测试是评估芯片可靠性和寿命的重要手段。通过模拟实际使用环境，对芯片进行长时间的高温、高压等恶劣条件下的测试，可以提前发现潜在的问题，提高芯片的稳定性和寿命。
2. 温度分布均匀性对芯片性能的影响：在芯片制造过程中，温度分布的不均匀会导致芯片性能不稳定，甚至出现故障。因此，提高温度分布均匀性对于保证芯片质量至关重要。
3. 西安紫光国芯的专利技术：该专利提出了一种新型的芯片老化测试方法，通过优化测试设备和工作环境，提高温度分布均匀性。具体技术细节如下：
a. 采用先进的温度控制技术，实现对芯片周围环境的精确控制，确保温度分布均匀。
b. 设计独特的测试设备，优化测试腔体结构和散热系统，提高温度分布均匀性。
c. 优化测试流程，降低测试过程中温度波动，提高测试结果的准确性。
4. 专利技术的意义：该专利技术的应用，有助于提高芯片老化测试的准确性和可靠性，为芯片制造商提供有力支持。同时，也有利于提升我国芯片制造水平，降低芯片生产成本，提高国际竞争力。
5. 对行业的影响：随着我国芯片产业的快速发展，

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金融界2025年4月9日消息，国家知识产权局信息显示，西安紫光国芯半导体股份有限公司申请一项名为“一种用于芯片老化测试的均温装置及芯片老化测试装置”的专利，公开号CN 119780675 A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本发明提出了一种用于芯片老化测试的均温装置及芯片老化测试装置，属于芯片测试技术领域，该均温装置包括加热单元；至少一个导热单元，每个导热单元用于将热量传递给对应的待测试芯片；以及均温单元，设置在加热单元与导热单元之间；均温单元用于将加热单元产生的热量在其上进行分布，并将分布的热量传递给每个导热单元。本发明在加热单元与导热单元之间连接均温单元，当多个待测试芯片同时进行老化测试时，能够确保每个导热单元传递给对应待测试芯片的温度一致，从而确保在芯片老化测试时，每个待测试芯片都处于同样的测试温度条件下，提高了温度在各个待测试芯片上分布的均匀性，同时便于对所有待测试芯片的温度进行精确控制。

天眼查资料显示，西安紫光国芯半导体股份有限公司，成立于2006年，位于西安市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10613.51万人民币，实缴资本10613.51万人民币。通过天眼查大数据分析，西安紫光国芯半导体股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目40次，财产线索方面有商标信息57条，专利信息787条，此外企业还拥有行政许可23个。

本文源自金融界